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TEM

透射电子显微镜

从纳米尺度探索材料内部结构与晶格信息，辅助分析颗粒形态与晶体缺陷。

纳米结构晶格条纹

样品类型: 可制备为透射电镜薄样的材料
结果形式: 透射图像及选区衍射结果
送样提示: 具体样品数量、测试条件、周期和费用需在送样前确认。

当前为静态项目预览，暂不受理在线订单。

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